
Konzept

Für Anwendungen wie z.B. Umformsimulationen oder Crashanalysen ist es notwendig, statistische Maße auf FE-Strukturen zu ermitteln und zu visualisieren. Hierfür hat DYNARDO einen statistischen Postprozessor entwickelt, mit dem die Ergebnisse von Rechnungen einer stochastischen Simulation eingelesen werden können. Basierend auf diesen Daten werden statistische Maße ermittelt und von SoS direkt auf der FE-Struktur visualisiert.
Visualisierung

Nach Import des der Berechnung zu Grunde liegenden FE-Modells werden verschiedene Ergebnisse in flexiblen, interaktiven Fenstern visualisiert und gegenüber gestellt. Daten können zur weiteren Verarbeitung oder Dokumentation exportiert werden.
Statistische Maße
Folgende statistische Eigenschaften und Qualitätsmaße können auf dem eingelesenen FE-Modell visualisiert werden:
- Mittelwert
- Minimum / Maximum
- Standardabweichung
- lineare Korrelationskoeffizienten
- Bestimmtheitsmaße
- 3-Sigma Fraktilwerte
Ausblick
DYNARDO arbeitet kontinuierlich an der Weiterentwicklung von SoS. In naher Zukunft ist es möglich, gemessene Daten einzulesen und auszuwerten. Ferner wird es möglich sein, auf Basis der vorhandenen statistischen Eigenschaften die Ergebnisgrößen als Zufallsfeld zu modellieren. Damit werden einerseits räumliche Abhängigkeiten aufgedeckt. Andererseits können künstliche Zufallsfelder, z.B. imperfekte Bauteile im Rahmen der Produktionstoleranz, in Ergänzung zu oder als Ersatz von Messungen simuliert und weiteren Analysen zugeführt werden.
Schnittstellen
Für Statistics on Structure existieren folgende Schnittstellen für den Import von Modellen und Daten:
- SLang binär und ASCII Format
- BMW Metaformat
- optiSLang
- LS-DYNA (LS-PREPOST) ASCII
- ABAQUS odb
- Weitere Schnittstellen auf Wunsch
Veröffentlichungen
Bayer, V.: Random Fields Developments; Proceedings Weimarer Optimierungs- und Stochastiktage 5.0, 2008, Weimar, Germany
Will, J.; Bucher, C.; Ganser, M.; Grossenbacher, K.: Berechnung und Visualisierung statistischer Maße auf FE-Strukturen für Umformsimulationen; Proceedings Weimarer Optimierung- und Stochastiktage 2.0, 2005, Weimar
Distributoren

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